36项拟立项国家标准项目公开征求意见,涉及质谱、光谱等仪器
来源：国产极品尤物粉嫩泬在线观看 点击量：24经研究，现对《燃料电池电动摩托车和燃料电池电动轻便摩托车安全要求指南》等36项拟立项国家标准项目公开征求意见，征求意见截止时间为2024年7月3日。
《高通量基因测序仪性能测定方法》
本标准由 TC481(全国仪器分析测试标准化技术委员会)归口 ，主管部门为科学技术部。主要起草单位：中国海关科学技术研究中心 、中国食品药品检定研究院 、深圳华大智造科技股份有限公司 、北京林电伟业电子技术有限公司 。
对于日趋增多的基因测序仪仪器产品、基因测序应用、基因检测检测技术升级需求，实现对高通量基因测序仪的仪器性能测定，并进行标准化输出，以及对细菌、病毒、人、植物等物种的检测技术要求，建立标准检测技术方法和参考标准，涵盖测序文库制备、测序、数据分析等技术方法内容。 主要技术内容： (1)建立基于高通量基因测序仪的性能测定方法，建立从核酸到数据的完整技术流程，建立标准化实验与分析流程，完成基因测序仪的通用性能要求和体系建设。 (2)建立基于高通量基因测序仪的常见物种测序及分析方法，实现细菌、病毒、人、植物等生物样本类型的测定流程建立和合格要求，并建立相应标准品，提供完整的测定参考体系。
《超低本底α粒子测量装置》
本标准由 TC30(全国核仪器仪表标准化技术委员会)归口，TC30SC1(全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会)执行 ，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位：深圳市计量质量检测研究院 。
本标准适用于测量本底计数率不高于0.05cm-2，能量不超过10MeV的α粒子测量装置。规定了超低本底α粒子测量装置的通用设计要求、测量特性、辐射测量特性、环境影响要求以及对应的试验方法，提供了出厂检验的项目要求，规定了超低本底α粒子测量装置的贮存和运输。
《高深宽比微结构形态参数近红外显微干涉测量方法》
本标准由 TC487(全国光电测量标准化技术委员会)归口 ，主管部门为中国科学院。主要起草单位 南京理工大学 、上海市计量测试技术研究院 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 、苏州工业园区纳米产业技术研究院有限公司 、中国科学院微电子研究所 、中国计量科学研究院 、中国科学院空天信息创新研究院 、齐之明光电智能科技(苏州)有限公司 、南京智群光电技术有限公司 。
适用范围：本标准描述了高深宽比微结构三维形貌及由之获得形态参数的近红外低相干显微干涉法测量原理、测量设备、测量要求以及测试报告等内容。 本标准适用于导航级陀螺仪、加速度计、压力传感器、微量成份色谱柱等功能器件的近红外透明类基底材料上高深宽比微结构的形态参数的测量。微结构包括但不限于单独和阵列(周期性)的沟槽、柱和孔等。
主要技术内容：低相干显微干涉法是一种非接触式光学无损检测技术，可得到样品的三维形貌。现有的白光低相干显微干涉法，探测光受高深宽比微结构的遮拦，探测失效;对材料透明的近红外波段探测光，不存在遮挡区域，探测光通量大，但高深宽比微结构引入调制像差，导致探测光不聚焦;引入变形镜，补偿调制像差，探测光在结构底部重聚焦，近红外低相干显微干涉法重新具备了高精度、高分辨率测量高深宽比微结构三维形貌的能力。
测量原理：近红外低相干显微干涉法检测高深宽比微结构，近红外光源发出的光束经分光棱镜分为两束，一束经待测高深宽比微结构样品反射，作为测试光，另一束经参考镜反射，作为参考光，两束反射光经成像系统汇合形成干涉图像，利用压电陶瓷等微位移机构驱动样品做垂直扫描，扫描范围覆盖高深宽比微结构的上下表面。因结构的调制，此时干涉图像的对比度低，依据像差检测模块测得的像差数据，改变变形镜形状，获得对比度良好、随垂直扫描位置变化的干涉图;通过对扫描得到的序列干涉图像进行低相干信号解调算法处理，同时扣除变形镜的附加相位，得到与样品形貌相关的相位分布函数，则可计算得到样品表面各点的高度信息，即样品表面的三维形貌;通过提取三维形貌计算，可以得到包括线宽、深度、深宽比和侧壁角的形态参数。
试验条件：(a)温度：20 ℃ ~ 25 ℃;(b)相对湿度：30% ~ 80%;(c)环境光照：室内照明环境，避免外界强太阳光照干扰;(d)振动干扰：无影响测量结果的光噪声，明显气流、电磁辐射和机械振动;(e)空气洁净度：一般高深宽比微结构的制造工艺环境，≤万级。
试验方法： 三维形貌信息测量：(a)将待测的高深宽比样品安装在样品台上，先调整定位结构的上表面;(b)根据深度名义值，调整移动至下表面，检测结构调制产生的像差，通过变形镜进行补偿，保存此时变形镜的补偿电压;(c)重新调整定位样品上表面，给变形镜施加展平电压，采集上表面附近的干涉图像，再移至下表面，给变形镜施加补偿电压，采集下表面附近的干涉图像;(d)根据采集到的图像，运用低相干垂直扫描形貌算法，计算出待测高深宽比微结构的三维形貌。通常测10 次，取算术平均值，作为三维形貌的测量结果。(e)根据计算出的高深宽比微结构的三维形貌信息进行数据处理，计算表征高深宽比微结构所需的结构形态参数，进行记录。
《电测量设备(交流) 特殊要求 第5部分：多回路电能表》
本标准由 TC104(全国电工仪器仪表标准化技术委员会)归口，TC104SC1(全国电工仪器仪表标准化技术委员会电能测量和控制分会)执行 ，主管部门为中国机械工业联合会。主要起草单位哈尔滨电工仪表研究所有限公司 、山东省计量科学研究院 、浙江正泰仪器仪表有限责任公司 、江苏省计量科学研究院 、江苏安科瑞电气有限公司等。
本标准规定了多回路电能表的分类、机械要求、技术和功能要求、计量性能要求及试验方法、检验规则及文件标识。 其测量部分从单个测量单元入手扩展到多个测量单元。 本标准适用于在电网电压不超过600 V且参比频率为50Hz(或60Hz)，用来测量和控制电能的电测量设备，能够测量多个电能回路有功电能的静止式仪表， 该表多个测量单元包封在一个表壳内或由多个测量单元有独立的外壳组成。除电能测量功能之外所有功能单元， 如电压/电流幅值、功率、频率、功率因数等测量、负荷控制、数据通信接口等， 则应符合这些功能相关的标准要求。
《稳态/瞬态荧光光谱仪性能测试方法》
本标准由 TC481(全国仪器分析测试标准化技术委员会)归口 ，主管部门为科学技术部。主要起草单位全国仪器分析测试标准化技术委员会 。
荧光光谱仪是一种常用仪器，应用广泛。本项目拟制定出稳态/瞬态荧光光谱仪主要性能测试与评价方法标准，以适应荧光光谱技术的新发展状况，改变现有标准落后于技术发展的局面，推进荧光光谱仪性能测试方法的规范化、标准化发展。
范围：本标准规定了稳态/瞬态荧光光谱仪性能测试方法。本标准适用于波长范围为 200-900 nm 的稳态/瞬态荧光光谱仪、稳态荧光光谱仪、瞬态荧光光谱仪主要性能测试与评价。 主要技术内容：规定了波长范围为 200-900 nm 稳态/瞬态荧光光谱仪的波长准确性、波长重复性、灵敏度、检出限、线性、稳定性、瞬态性能的测试与评价方法。
《真菌毒素快速检测仪性能测试方法》
本标准由TC481(全国仪器分析测试标准化技术委员会)归口 ，主管部门为科学技术部。主要起草单位：中粮营养健康研究院有限公司 。
由于国内快速检测产品生产门槛低，监管部门难以监管，市场上流通的快速检测产品质量参差不齐，符合质量把控的合格快检产品较少。为确保在使用胶体金快速检测仪时能够对检测物更好的定值，亟需出台针对评价胶体金快速检测仪检测质量的统一标准来进行规范。
本标准规定了胶体金快速检测仪器得评价技术规程。 本标准适用于指导胶体金快速检测仪器的评价。
《三重串联四极杆电感耦合等离子体质谱仪性能测试方法》
本标准由TC481(全国仪器分析测试标准化技术委员会)归口 ，主管部门为科学技术部。主要起草单位：全国仪器分析测试标准化技术委员会 。
本标准规定了三重串联四极杆电感耦合等离子体质谱仪基本技术性能的测定方法，适用于三重串联四极杆电感耦合等离子体质谱仪的性能评价。 本标准的主要技术内容为：对背景噪声、检出限、灵敏度、双电荷离子产率、氧化物离子产率、质量稳定性、分辨率、同位素丰度比值、短期稳定性和长期稳定性等基本技术性能进行测定;并对典型元素的抗干扰能力进行测定。
